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IGBT內(nèi)部缺陷檢測之X射線檢測設備

更新更新時間:2023-06-08

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X可以IGBT內(nèi)問題。IGBT,。IGBT可能現(xiàn)內(nèi),、、問題IGBT穩(wěn)。XIGBT,可以IGBT內(nèi)顯示位置、大小。X可以通過IGBT一個位置進行X內(nèi)通過顯示X,操作可以進行可以IGBT質(zhì),并


X就能非常直觀的檢測IGBT內(nèi)部的氣泡或者其他缺陷,而且XRAY檢測是一種無損探傷檢測,不會破壞IGBT就能看到其內(nèi)部的結(jié)構是否有缺陷或異物。正業(yè)科技從事X研發(fā)10多年,目前生產(chǎn)的全自動XRAY檢測設備XG5500可用于半導體芯片、IGBT、SMT等缺陷進行無損檢測,可實現(xiàn)檢實現(xiàn)零漏檢、極低誤檢,檢測效率高,可以助力企業(yè)提質(zhì)增效。


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